光学式外観検査装置　MIYABI 7 

スマートフォンやタブレット端末など小型デバイスの進化や、車の自動運転・衝突防止機能など安全装置の普及とともに、
HDI基板やFPC基板にはさらなる高密度化・高精細化が求められます。
「MIYABI 7」は、SCREENが30年以上にわたって培ってきた実績に加え、独自開発の照明・撮像系や検査ロジックを新たに搭載。
最先端エレクトロニクス向け基板の信頼性向上とリードタイム短縮を強力にサポートします。
In the newly developed lighting unit mounted on MIYABI 7, three types of light sources can be selected, and even substrates hard to secure contrast can be seen, and favorable inspection results can be obtained. Also equipped with newly developed logic for LVH (laser via).
MIYABI 7 detects any abnormalities in PCB hole inspections, such as hole diameter deviation and via bottom failure, up to the LVH of the top diameter 60 μm class in addition to the through hole.
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