Тёмный

薄膜評価セミナー「逆格子マップによるエピタキシャル薄膜の評価」 

株式会社リガク
Подписаться 974
Просмотров 440
50% 1

<セミナーの内容>
・XRDを用いたエピタキシャル薄膜の評価
・逆格子マップにより得られる情報
・1次元、2次元検出器を用いた逆格子マップの高速測定とその特徴

Опубликовано:

 

29 окт 2024

Поделиться:

Ссылка:

Скачать:

Готовим ссылку...

Добавить в:

Мой плейлист
Посмотреть позже
Комментарии    
Далее
【初級】薄膜X線回折講習会
1:07:57
最新X線技術による電池材料評価
25:27
2024 HKU Business School Pilot Forum
3:41:58
Просмотров 5 тыс.