@@로봇바보 님 안녕하세요! 질문주신 내용대로 "정말 아름답게" 정중앙으로 지나간다면 가능은 할 것 같아요. 하지만 입자의 크기에 비해 엄청나게 긴 극자사이를 그렇게 통과할 가능성은 0에 가까울 것 같아요. 10-15 cm 극자가 사람에게는 무척 작아보여도, 수 nm 스케일의 입자입장에서는 천문학적인 거리거든요. 단순하게 비교하면 2 nm 입자에게 2 cm는, 2 m인 사람에게 10^7 m와 같아요. 1만 킬로미터면 지구의 직경보다 조금 부족한 거리인데요. 사람이 지구의 직경만큼의 거리를 정확히 걸어가기 힘든 것 처럼, 어떤 입자가 두 극자사이를 정확하게 사이로 지나가기도 힘들거든요. 통계적으로 의미없는 값이 나올 것 같아요. 점심시간이라 계산이나, 이론적인 이야기 없는 답변을 드리네요;; 그래도 도움이 되길 바랄게요!
안녕하세요 영상보다가 이해 안가는 부분이 있어서 댓글 남깁니다. 8분 경에 위아래 +교류가 걸렸을 때 질량이 작은 입자들이 사중극자에 충돌하는거는 이해가 되는데 9분 쯤에 위아래 -교류가 걸릴 때는 왜 그 반대로 질량이 작은 입자들이 통과하게 되는지 이해가 안갑니다. 바뀐 거라고는 위아래 전극이 +에서 -로 바뀐 것 뿐인데 교류로 반대 전하의 영향을 받더라도 똑같이 질량이 작은 입자들이 더 쉽게 충돌해서 제거되야 되는거 아닌가요??
몇번 돌려보는데요 궁금한점이 있어요 1. 제 생각에는 +++DC가 걸릴때, 교류가 걸리면 작은입자가 필터링 될듯한데 반대로 ---DC가 걸릴때, 교류가 걸리면 큰입자가 필터링 될듯합니다, 왜냐하면 작은입자는 교류에 크게 반응하기에 +++DC(척력으로 ) 보정해야한다고 생각해서인데, 튜터님 생각은 어떠한가요?
이해하기 쉬운 용어들로 설명해주셔서 많이 배우고 갑니다. 궁금한 점은 설명에서는 DC 값은 일정한 상태에서 RF 값의 변화를 설명하셨는데 Sharp peak를 얻기 위해서는 DC값과 RF값을 조절 (matthieu equation, mass scan line) 하는 것으로 알고 있는데 설명해주신 부분에서 DC값을 조절하면 어떻게 변화할지 알려주시면 감사드리겠습니다. 물리적인 부분은 참 어렵네요ㅠ
"JAE HUN JUNG"님 안녕하세요. 친절한 댓글 감사합니다. Introduction 영상이 당시에 많이 생략했던 내용이네요;; 조금 복잡한 수식이 포함된 내용이라 그래프와 함께 설명해야 직관적으로 설명할 수 있을 것 같은데요. 그래서 댓글로는 답변드리기 어렵네요. 그래도 어떤 느낌인지 아시려면 아래의 링크 figure 15.에서 y축(DC current)에 직교하는 선들을 그리시면 도움이 될 것 같아요. Mathieu stability diagram에서 극단적으로 낮은 DC를 걸면 m1, m2, m3를 아예 분리하기 어렵지만, 점차 DC값을 높여가면 Mathieu stability diagram에서 각 질량별 stable영역이 겹치지 않는 sweet spot을 찾을 수 있으니까요! www.shimadzu.co.kr/service-support/technical-support/analysis-basics/fundamental/mass_analyzers.html 해당 내용은 다음에 Ion trap이나 orbital trap 방식의 MS 검출기를 설명할 때, 자세히 설명하겠습니다! 시간이 걸리더라도 기다려주시면 꼭 영상으로 만들어 올릴께요!!
"사랑해요사랑해"님 안녕하세요. 친절한 댓글 감사합니다! 주위에 화학 분석 기사시험을 공부하는 것은 봤는데 제가 응시하지는 않았어요;; 개인적으론 기사시험이니 기출위주로만 공부해도 좋을 것 같아요! 사실 문제들이 실제 장비를 다루어본 입장에선 쉽거든요. 주위에 연구실다니는 분들에게 설명해달라고 하는 것이 가장 좋을 것 같아요. 여건이 어렵다면, 성안당이 규모가 가장 크니 한번 강의를 들어보는 것도 좋을 것 같습니다.
안녕하세요! 훌륭한 강의 잘 보고있습니다! 저는 현재 학부연구생으로 RGA sensor (QMS)의 반도체공정 적용 연구를 진행하기 위해 선행학습을 하는 중 입니다. 학부전공이 전자공학인지라 걱정을 하고있었는데, 이런 훌륭한 강의를 만나게 되어 너무나도 감사드립니다. 필기를 하며 강의를 듣고싶은데 혹시 강의자료를 얻을 수 있는지 질문드립니다. 가능하시다면 이메일을 남겨주시면 감사드리겠습니다!
직류와 교류로 인한 m/z 분리하는 원리를 드디어 이해하게 되었습니다! 감사합니다! 그런데 한 쌍의 막대에 직류와 교류를 둘다 걸어줄 수가 있는 건가요? 직류가 걸려있는 두 쌍의 막대에 어떻게 교류가 걸리는 건지 전기쪽으로는 지식이 부족해서 질문 남겨봅니다. MASS말고도 다른 영상들도 너무 감사하게 보고있습니다!
"김승우"님 안녕하세요! 댓글 정말 감사합니다! 네, 직류와 교류 모두 걸어줄 수 있습니다. AC-DC combined voltage란 검색어로 찾아보시면 좋을 것 같아요. AC-DC combined voltage mass 검색어도 좋을 것 같고요. 저도 해당 내용은 공부한지가 오래되서, 수식을 보면서 바로 설명을 드리긴 힘드네요;; 복습해서 나중에 MS/MS 영상을 만들 때 설명드릴게요!
안녕하세요 선생님 새로운 영상 늘 감사히 챙겨보고 있습니다. 몇 가지 여쭤보고 싶은게 있어서요 !! Q)시료의 양이 과다하게 되면, 분석물질의 농도 의존적으로 감응 증가가 한정적(선형 범위를 넘어선 동적 범위) -> 진공챔버 부분에서 필라멘트가 과다한 양의 시료를 충분히 이온화 시키지 못하기 때문일까요? -> 이온화된 시료가 너무 많아 Quadrupole에서 이온들을 충분히 filtering 하지 못해서일까요? -> 5:54 이온화된 시료만 질량분석장치로 이동하게 되는데, 이 뜻은 시료가 항상 100% 이온화 되지는 않는다는 말일까? (시료의 농도에 따라 다를 수도 있는걸까?) (물질마다 MS property가 다른데, 이 의미는 이온화가 잘 되는 물질은 감응이 좋고, 잘 안되는 물질은 감응이 떨어지는 이유일까요?) 질문이 다소 까다롭진 않을까 걱정이네요 ㅠㅠ
"Life in Korea"님 안녕하세요. 댓글 감사합니다! 정말 좋은 질문이네요. 우선 MS에서 농도에 따라 문제가 생기면 GC/MS에서는 온도를 높이고, LC/MS에서는 salt같은 불순물을 제거하고 시작하는 걸로 배웠어요. 사실 농도가 높으면 선형성이 나빠지는게 일반적이고요. 질문주신 내용은 GC/MS 같은데요, 사실 100 % 이온화는 불가능해요. 이온화되는 시료는 주입한 sample의 1 %도 안되거든요. 보통 ~0.1 %가 이온화되고, 이온화된 시료중 ~20 %가 검출기로 주입된다고 해요. 물론 장비마다, 분석 조건에 따라 조금은 다르겠지만요. 또한 ionization chamber내 filament의 전압에 따라서, ionization percentage와 ionization type도 변하고요. 추가로 질문대로 시료마다 이온화가 일어나는 정도가 다르기 때문에, 분석조건은 동일해도 시료마다 선형성이 나오는 영역이 달라지고요. (이온화가 잘되는 시료와 아닌 시료의 차이가 실제로 커요) 사실 Calibraton을 넓은 영역에서 정확하게 잡는 것은 어려운데요... Temp., carrier gas, flow, diluent gas등을 바꾸시면서 시도해보시는게 좋을 것 같아요. 개인적으로 MS 분석 경험이 많지는 않아서, 댓글만 보고는 어떤식으로 해결할지 답변을 드리기 힘드네요; 시료가 어떤 물질인지는 모르지만, 되도록 온도를 높혀서 해결되기를 바랄께요. p.s. 모든 장비가 그렇지만 고농도 영역에서 선형성을 얻는 건 어려워요. 힘내세요! 혹시, 더 궁금하시면 댓글을 달아주세요. 어려운 문제가 아니면 천천히 시간을 두고, 친구나 다른 연구원들에게 물어 볼게요.
"KH J"님 안녕하세요. 보통 질량분석기에서 사중극자는 모든 종류의 m/z 값을 가진 입자들을 통과하게 도와주는 장치가 아니라, 원하는 m/z 값을 가진 입자만 통과시키는 filter입니다. Filter를 통해서 원하는 m/z 전하값을 가진 입자들의 분포에 대한 정보를 얻는 것이 아니면, 질량분석기가 아닌 입자의 이온화장치 및 검출기가 있는 "입자 이온화 확인"장치일 뿐이죠. 물론 나름대로 사용할 수 는 있지만, filter가 장착된 질량분석기보다는 그 유용성이 낮을 것 같아요.
"미잉초옹"님 시청 감사합니다. ㅎㅎ STD요?? 축약어중에 흔해서 문맥을 알아야 하는데요;; STD는 보통 과학의 영역에서 standard의 축약어로 표준 용액, 표준 조건, 또는 표준편차등 "표준"이 어울리는 거의 모든 단어에 축약어로 사용되어요. 그래서 정확히 어떤 뜻으로 사용되었는지 모르겠어요.
"BOUN"님 안녕하세요. Rod에 충돌한 이온이 쌓이는 일은 잘 발생하지 않을 것 같아요. 혹시나 그러더라도, 실험실에서 세척할 것이 아니라, 장비 회사에 보내 수리받을 문제 같고요. 물론 질문주신대로 이온이 장비에 쌓이니, MS에서 이온화부분은 정기적인 세척이 필요합니다. 다만 Ion-transfer tube, interface cone, skimer cone같은 초반 파트만 정기적으로 세척하는 것으로 알고있어요. 그 내부의 사중극자나 검출기를 열어서 세척하는 것은 들어본 적이 없거든요. 이유는 앞선 부분에서 대부분의 염같은 불순물이 제거되면서, 동시에 일부의 이온들만 사중극자 내부로 유입되거든요. 이 부분에서는 이온의 진행방향과 수직하게 존재하는 cone들에 이온이 강하게 충돌해 쌓이기도 쉽죠. 하지만 이온이 통과하는 사중극자는 기본적으로 이온의 진행방향과 평행하니 전자기장의 영향으로 극자에 충돌하더라도, 앞선 cone에서 일어나는 것 처럼 강하게 충돌하여 쌓이는 일은 거의 발생할 것 같지 않아요. 극자 표면에 강하게 붙어있는 것이 아니면 진공펌프가 제거할 거고요. 무엇보다 그 부분은 손대면... 돌이킬 수 없는 일이 일어날 수 있으니 혹시 세척이 필요하더라도 장비사에 보내서 수리를 받는 것이 좋을 것 같습니다. 답변하다보니, 질문자님이 어떤 깊이의 답변을 원하는지 모르겠네요;; 혹시 궁금한 부분이 더 있으면 댓글을 달아주세요!
궁금한게 있는데 학교에서 부터 이제 원자의 이온화 설명은 많이 들었는데, 일반적인 산업에서 gas의 성분(CO, CO2, H2등)을 분석하는 질량분석기가 위의 원리로 작동하는것같은데, 이때는 분자의 이온화를 말하는것 같더라구요, 분자의 이온화 과정에 대해 알 수 있는 자료나 링크 같은게 있을까요?
"JH Choi"님 안녕하세요.질문주신대로 MS에는 분자의 이온화가 주로 일어납니다. 원자의 이온화 에너지 분석은 광전자 분광학(Photoelectron Spectroscopy)에서 주로 살펴보고요. 분자의 이온화 과정에 대해서는 간단히 영문 위키의 내용 정도로도, 대략적인 내용을 이해하는데 충분할 것 같아요! 추가로 위 영상의 방식인 전자 이온화 방식에 대한 위키도 링크를 달아드릴게요. en.wikipedia.org/wiki/Ionization en.wikipedia.org/wiki/Electron_ionization 아니면, 화학과에서 사용하는 분석화학이나 물리화학 교재를 보셔도 좋을 것 같아요. Atkins 물리화학에도 소개는 되어있으니까요!
"박성진"님 안녕하세요. 우선 RF는 radio frequency이며 oscillation rate of AC current입니다. 그러니 DC를 걸어준 상태에서 적절한 세기의 RF(AC current)를 걸어준다는 뜻입니다. 교재의 설명과 같은 내용입니다. RF에 의해 양극과 음극이 회전하듯 계속 변하는 것도, RF가 AC의 oscillation rate를 의마하는 것이니 같은 내용이고요.
"이지은RU-vid와방탄이들"님 안녕하세요. 이유를 설명드리면, 먼저 입자들이 양전하로 이온화 되어있기 때문에 음극에 자연스럽게 충돌합니다. 그래서 사실 직류만 걸려있으면, 모두 충돌합니다. 이를 피하려면, 교류의 영향을 크게 받아야하고요. 교류는 +/-를 교대로 걸어주기 때문에, +일 때는 입자를 밀어내고, -일 때는 입자를 끌어당겨주어서, 교류의 영향을 크게 받는 입자는 전극 사이를 춤추듯 일정 궤도를 이루며 통과할 수 있거든요. 이때, 교류의 영향을 크게 받는 입자는 역시 질량이 작은(관성이 작은) 입자이고요. 그래서, 직류로 음극이 걸리 조건에서는 교류의 영향을 크게 받는 질량이 작은 입자만 통과할 수 있습니다. 조금은 이해가 되었나요? 혹시 이해하지 못하였으면 다시 질문해주세요!! p.s 양극조건에서는 반대로 교류의 영향을 너무 크게 받으면 궤적의 폭이 너무 커져서 충돌하니, 교류의 영향을 작게 받는 질량이 큰 입자만 통과할 수 있고요.