Тёмный

Agilent Pico 5500 AFM scanning 4 microns on a Minus K vibration isolator with active pile driver 

MinusKdotCom
Подписаться 147
Просмотров 99
50% 1

Agilent Pico 5500 AFM scanning 4 microns on a 1 micron center to center distance calibration sample on Minus K BM-10 negative-stiffness vibration isolator. On the 4th floor of a concrete reinforced building with an active pile driver running outside.

Наука

Опубликовано:

 

5 окт 2023

Поделиться:

Ссылка:

Скачать:

Готовим ссылку...

Добавить в:

Мой плейлист
Посмотреть позже
Комментарии    
Далее
Atomic Force Microscopy (AFM)
10:22
Просмотров 102 тыс.
Bruker Atomic Force Microscope
46:43
Просмотров 2 тыс.
Incredible Inventions You Need in Any Home
21:05
Просмотров 12 тыс.
Have you ever seen soldering THIS close?
9:53
Просмотров 487 тыс.
Google Data Center 360° Tour
8:29
Просмотров 5 млн
SuperFlat insitu AFM - imaging a calibration sample
0:45
3 NEW Teslas Coming Next Week  | Could This Happen?
19:53
iPhone 16
0:20
Просмотров 13 млн