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Una poderosa técnica para el testeo y diagnóstico de tarjetas PCBs.
El problema de la reparación de tarjetas electrónicas se ha hecho cada vez más complejo. Se necesita una gran cantidad de tiempo para detectar una falla, gran conocimiento de Hardware y Software por parte de los técnicos y un alto costo administrativo. Otra forma tradicional del mantenimiento de los mismos, se hacía a nivel de reemplazar directamente si se presentaba alguna anomalía, lo cual era rápido y no exigía personal calificado. En contrapartida, este método implica un costo elevado para el mantenimiento y además de la dificultad para detectar ciertos tipos de errores, está provocando la pérdida de otras metodologías de búsqueda de detección de fallas.
Para superar todos los retos que supone el diagnóstico tarjetas electrónicas, ABI Electronics ha implementado entre muchas de sus pruebas funcionales, los análisis de firmas analógicas llevando el diagnóstico a otro nivel de versatilidad y rapidez en las pruebas de PCBs. El análisis de firmas analógicas (ASA, también conocido como prueba V-I) es una poderosa técnica para el diagnóstico de fallas en placas de circuito impreso, y es el método de elección cuando se carece de los esquemas y la documentación de los circuitos, también cuando no se puede alimentar la PCB con seguridad. La técnica se utiliza desde hace mucho tiempo, pero es todavía poco conocida o entendida. Muchos de los potenciales clientes de esta tecnología, diseñadores de circuitos, mantenimiento de equipos, empresas de reparación, no han utilizado nunca o no han oído hablar del test V-I que consiste en aplicar una señal con un voltaje variable adecuado al componente bajo test y a continuación medir la corriente resultante obteniendo un gráfico (firmas V-I)del mismo. En situaciones reales, el análisis comparativo de las señales analógicas se puede utilizar haciendo coincidir las firmas analógicas de una PCB en buen estado y compararlas con las firmas de la PCB bajo sospecha, una diferencia en las firmas podría indicar una falla potencial.
29 янв 2014
