Тёмный

14.3. Test Design and Fault Coverage 

Electron Tube
Подписаться 8 тыс.
Просмотров 8 тыс.
50% 1

Опубликовано:

 

27 окт 2024

Поделиться:

Ссылка:

Скачать:

Готовим ссылку...

Добавить в:

Мой плейлист
Посмотреть позже
Комментарии : 4   
@kavithaKAVITHA-vi6jo
@kavithaKAVITHA-vi6jo 3 года назад
Am doing project on logic bist
@erkincetinkaya
@erkincetinkaya Год назад
Shouldn't the fault coverage be 2500/3000 in this example instead of 500/3000?
@improvebro
@improvebro Год назад
I am having the same doubt, formula says uncovered/faults but he did covered/faults , it should be 2500/3000 right??
@doomtomb3
@doomtomb3 20 дней назад
@@improvebro 500/3000 is the correct ratio. What he wrote as uncovered I think means "covered" By uncovered he means "unveiled or revealed" which really means the same as covered or tested
Далее
14.4. Yield, Defect Level, and Fault Coverage
17:17
Просмотров 7 тыс.
14.8. SCAN path technique
15:41
Просмотров 9 тыс.
Гаджет из даркнета 📦
00:45
Просмотров 266 тыс.
无意间发现了老公的小金库 #一键入戏
00:20
14.11. Testing memories: stuck at & transition faults
14:00
14.9. Automatic Test Pattern Generation
17:31
Просмотров 10 тыс.
14.10. Built In Self Tests
18:46
Просмотров 4,7 тыс.
14.12. Testing memories: coupling & NPSF
15:03
Просмотров 2,9 тыс.
How input buffering works
20:25
Просмотров 189 тыс.
Experimenting with Buses and Three-State Logic
18:43
Просмотров 610 тыс.
Measuring conducted emissions with LISN
19:44
Просмотров 1,1 млн
Why build an entire computer on breadboards?
28:43
Просмотров 3,1 млн
14.2. Defects, Faults, and Errors
10:21
Просмотров 9 тыс.