Тёмный

Ing. H. Waage: Technické aspekty HW po 25 letech provozu v Jaderné elektrárně Temelín [Fyz. ¼] 

CVUTFEL
Подписаться 21 тыс.
Просмотров 16 тыс.
50% 1

[0:00:00] ••• úvod, představení
[0:05:02] ••• Tin whiskers
V JE Temelín byl tento fenomén indikován v ovladačích na panelech na blokové dozorně, nicméně díky robustní architektuře řešení SKŘ lze do určité míry tyto projevy omezit na přijatelnou míru. I tak však při opravách či nových dodávkách dbáme na „bezwhiskerovou“ technologii.
[0:23:48] ••• Stárnutí PCB vlivem teploty.
V JE Temelín byly po 25 letech provozu indikovány degradace PCB, ovšem jen u desek, u kterých bylo indikováno slabší chlazení a degradace byla způsobena teplotou od aktivních komponent na desce. Samotné komponenty na PCB fenoménem teploty dotčeny nebyly, ale povrch PCB byl degradován z obou stran.
[0:46:43] ••• Vývoj karet Intel.
Původní výrobce karet během vývoje použil technologii, která výrazně usnadňuje vývoj, avšak ve svém důsledku může zkrátit životnost komponent použitých ve finálním produktu. Jedná se o použití GAL čipů, namísto navržených komponent typu PAL.

Опубликовано:

 

28 апр 2024

Поделиться:

Ссылка:

Скачать:

Готовим ссылку...

Добавить в:

Мой плейлист
Посмотреть позже
Комментарии : 33   
@karelbenak
@karelbenak Месяц назад
Výborná a i pro HW laika naprosto srozumitelná přednáška. Děkuji
@stanovy
@stanovy 3 месяца назад
Skvělá přednáška a profesionální rozměr přednášejícího!!!
@AP57532
@AP57532 3 месяца назад
Úžasná dávka informací, které bych jinak neměl šanci se dozvědět. Díky.
@adamkonrad
@adamkonrad 3 месяца назад
Super přednáška. Dlouho jsem se nedozvěděl takové množství nových technických informací!
@petrweiner8375
@petrweiner8375 4 месяца назад
Diky moc za skvelou prednasku.
@romanhruby5178
@romanhruby5178 3 месяца назад
Dekuji za prinosnou prednasku. Tyto poznatky z praxe jen stezi nahrazuje nejaka laboratorni studie. Ty podminky a materialy si to musi "odzit" abychom mohli udelat presnejsi zavery. Pokud vyrobce nebyl schopen definovat zivotnost, pravdepodobne tak cinil proto, ze vi, ze spocitat tolik promennych nelze dostatecne presne a nemuze se za takova data zarucit.
@rumorum
@rumorum 3 месяца назад
jsou způsoby jak to simulovat
@obajer
@obajer 4 месяца назад
Absolutni pecka! Diky!
@francievhudbe6025
@francievhudbe6025 4 месяца назад
Výborná přednáška. Přeneslo mne to do 80. let, kdy se chyby na sálových počítačích hledaly po deskách - vadná se vyměnila a následně na dílně diagnostikovala a oprravila - pak čekala na znovupoužití... Ty cínové chlupy rostou tam, kde je z nějakého důvodu rozdíl elektropotenciálu na povrchu - leštěné povrchy problém v ploše nemívaly - jen hrany. Druhým "hnízdem" byly pak různé mikrovrypy nebo molekulární nečistoty. Jen jsme při galvanizaci nemívali takové problémy s nefunkčností - neb se vyššími proudy upálily.
@Zek205
@Zek205 4 месяца назад
Tohle se vidí málokdy. Dík
@danslanina5594
@danslanina5594 3 месяца назад
Skvělá přednáška, děkuji moc...
@janpirkl6310
@janpirkl6310 3 месяца назад
Prvně bych Vám chtěl pane inženýre poděkovat za hezkou a srozumitelnou přednášku. Velmi rád jsem si jí poslechnul. Ovšem musím se přiznat že mě docela zaskočilo, že Vás a Váš tým zaskočila přítomnost TW v obvodech. S tímto jevem se setkal snad každý elektronik, který se zabývá servisem zařízení v těžkém provozu. Ano musím Vám dát za pravdu že s tímto jevem se v dnešní době eko šílenství bojuje docela těžko. Zajímalo by mě proč se pro zařízení určená pro tyto účely nepožívá sofistikovanější povrchová úprava v konektorových spojích a to třeba metoda pozlacení mosazných materiálů atd. Těch možností je velká spousta. Určitým způsobem chápu že se jedná spíše o legislativní a a schvalovací problém než technologický. Což mi přijde ještě zvrácenější. Dalším tématem které rozebíráte je degradace DPS vlivem času a tepelného namáhání. Ty "tmavé fleky" na DPS jsou opět běžným z jevů v místech kde je vyšší hustota komponent a to jak pasivních tak aktivních které jsou zdrojem oteplení. Docela mě překvapilo že se takové desky provozují dále. Ono i když to na první pohled není zřetelné, tak dochází k degradaci základních materiálů kterými je DPS tvořena. A to hlavně pojiva, epoxidu, kterým je základní materiál, sklolaminát, napuštěn. Deska je pak v tomto místě náchylnější na mikro trhliny díky zvýšené křehkosti. Nemluvě o zvýšené náchylnosti na trhliny v prokovech mezijednotlivými vrstvami a možnosti vzniku mikrotrhlin ve vodivých cestách DPS. Předpokládám že se jedná o čtyř vrtvé DPS . I když musím z vlastní praxe říci že těch poruch způsobených mikrotrhlinami není v provozu tolik, horší to začíná být od doby kdy se začalo používat zlo zvané bezolovnatý cín. Ten v těchto exponovaných místech degraduje mnohonásobně rychleji. O čemž se lze přesvědčit pod mikroskopem. V poslední části Vaší přenášky, která mi je asi nejbližší, stárnutí logických obvodů je poměrně velký problém a diagnostika je dosti komplikovaná. Ovšem co mě zaráží je metoda hledání a odstraňování poruch na deskách, v dnešní době logických analyzátorů a mnoha jiných diagnostických nástrojů je hledání kořenové příčiny o dost jednodušší než v dobách kdy byl maximálně tak logiskop. I když je to stále složitá mravenčí práce, to Vám nemohu rozporovat. Dále mě dost zaujalo odstraňování části obvodu kolem oscilátoru. Konstruktér tam ty komponenty z nějakého důvodu dal, asi věděl proč, to zařízení s nimi fungovalo a to že když něco odstraním a začne to fungovat není řešení problému. Ten pin u těchto oscilátorů uvádí výstup do třetího stavu. RC článek tam s největší pravděpodobností konstruktér dal aby opozdil výstup hodinového signálu z oscilátoru než se spolehlivě stabilizují napájecí zdroje, vnitřní obvody oscilátoru a ten následně poskytne stoprocentně spolehlivý hodinový signál bez hazardních stavů při spouštění. Stárnutí vlastního krystalu v generátoru je též dost problém. Stejně tak mě udivuje že je výstupní budič oscilátoru uveden do třetího stavu a následná vazba na další logický obvod nemá definován jednoznačný logický stav a v ten okamžik je "ve vzduchu". Což většinou vede k hazardním stavům na vstupu navázaného obvodu. Což může být i jeden ze zdrojů oněch náhodných poruch s ohledem na stárnutí logických obvodů. Stejně tak jako zvyšování napájecího napětí obvodů, i s tímto efektem se každý kdo opravoval digitální techniku založenou na logických obvodech setkal. Prostě časem u těchto obvodů dochází k posunutí platné úrovně LOG1 a zakázaného pásma. Přiznám se že nevím proč. Tak jako mírně i stoupá spotřeba těchto obvodů. Tímto samozřejmě nechci zlehčovat náročnost diagnostiky závad v těchto složitých zařízeních. Spíš to je takové slovo do diskuse. Ještě jednou Vám děkuji za pěknou přednášku.
@jirizyka
@jirizyka 3 месяца назад
hodně zajímavá přednáška. Byť se HW takto do hloubky nezajímám, je dobré vědět, co se vlastně může s elektronikou dít. Nejen v počítačích, ale i v řídících systémech fabrik, případně v autech. Vždycky jsem si říkal, že ta 20 letá "garance" uchování dat v různých hradlech, eeprom atp. je jen taková úlitba výrobce "fakt to nebudeme garantovat na furt". A ono to má i technické opodstatnění - opravdu dochází ke ztrátě zapsaných informací. S tím jsem se ještě nesetkal. A ty fousky cínu? To jsem ještě neviděl. Děsí mě, jak bude stárnout elektronika v autech, kde je už bezolovnatá pájka. Ono se to vlastně už dost možná děje, jen se to prostě svede na "je to staré, uklepalo se to, něco odešlo atp."
@martin913913
@martin913913 3 месяца назад
Nejsem žádnej odborník, ale "vypařující se data" jsou dost reálné a obávám se, že se zmenšující se elektronikou to bude čím dál častější. Kupříkladu tipnu, že milé PAL... čipy jsou řešeny levnější technikou, aneb, že se v nich něco vyloženě přepálí a tak se "natvrdo" programují(přičemž si nedokážu představit moc božským rozmarům vzdorujících technik). Ony GAL... čipy(jak bylo naznačeno, nejspíše (E)EPROM technika?) jsou stále obdobná technologie používaná dodnes ve všem možném, co v sobě drží nějaká data. Aneb představme si "balónek", do kterého naženeme elektrický náboj a onen náboj, nahrazující gate, nám drží FET tranzistor stále v nějakém funkčním stavu a určuje tak jednotlivý bit. Ale žádný balónek prostě nedrží nafouklý věčně a stejně nám může po čase onen elektrický náboj utéct(jestli to třebas z těch GAL...ů netahá pouhá přítomnost tý programovací logiky kolem... nejsem atomový inženýr a kdo ví, co se tam reálně může odehrávat...) a milá informace se prostě ztratí(tak si vzpomínám na EPROM paměti mazané UV světlem, ale což třebas kosmická radiace apod?). Navrch vymyslíme techniku mazání a (znovu)nahrání, kdy balónek nafukujeme a vyfukujeme ale po každé téhle operaci tím zvýšeným napětím do něj uděláme nějakou nepatrnou dírku(třebas rozhodíme z mřížky nějaký atom, fungující jako izolant, aby nám ony elektrony/náboj neutíkaly). A čím více těch děr, tím rychleji se informace ztratí. Aneb proč odchází SSD disky, Flash paměti apod? Protože je to stále relativně totožná technika ála EEPROM paměti, jen s rozdílem, že aby jsme ušetřili na křemíku, nemáme možnost smazat jednotlivý bajt, ale gumujeme to po celých blocích třebas po 512kb. Jako ano, jsou jisté technické variace, ale principiálně mi to připadá "na jedno brdo". A pár takových případů jsem dost možná zažil...(mobily, tablety, řídící jednotky z různých zařízení apod.) Kdy to opravdu stačilo znovu nahrát a jedeme dál, ačkoliv jsem si v jistých případech hodně jistý, že žádné "sebeúpravy" v programech nejsou(není k nim žádný logický důvod). Ale je dost možné, že jsem tu vypsal velehovadinu...
@Nasetraktory.
@Nasetraktory. 3 месяца назад
V čase 32:00 chlazení karet bych měl připomínku. To že je to špatně navržené je jasné. Existuje řešení: vyrobit chybějící drážku na levé straně, ventilátory umístnit dal asi 30mm a udělat vedení vzduchu. Také je možné optimalizovat proudění zůžením průduchů u kterých je dostatečný průtok vzduchu. Setejně je to úžas, že to někdo na tak důležitém zařízení takto odflákne. Papírkový test naprostá paráda a prokazatelnější jak 1000 měřidel. Co se týká růstu "chlupů"také to lze řešit.
@rumorum
@rumorum 3 месяца назад
na SMTinfo 2023 to označovali jako stromečky :) Mají i prototypové desky na kterých to simulují
@tomaskrysl1234
@tomaskrysl1234 3 месяца назад
Total commander rulezz.😂
@vojtechmarek5431
@vojtechmarek5431 3 месяца назад
Harry čoveče ty jsi se za těch 15 let vůbec nezměnil :)
@Sixta16
@Sixta16 4 месяца назад
Whisker je vous, vousek. Rozhodně to český překlad má.
@evzenhedvabny6259
@evzenhedvabny6259 3 месяца назад
Není to cínový mor? Ale možná se pletu.
@VaclavBrozik0
@VaclavBrozik0 3 месяца назад
​@@evzenhedvabny6259ne, cínový mor je proces rekrystalizace cínu na jeho extrémně křehkou formu. V podstatě se cínový předmět začne rozpadat na elektricky nevodivý prášek. Proces se u čistého cínu může spustit při teplotách pod cca 13⁰ C. Také způsobuje závady u čistě cínových RoHS pájek.
@32bits-of-a-bus59
@32bits-of-a-bus59 3 месяца назад
@@evzenhedvabny6259 Neni. Cinovy mor je rekrystalizace cinu do jine struktury ktera zacina pri teplote pod asi 10 C, jestli se dobre pamatuju. Pri tom se cinovy predmet rozpadne na prasek. Pri velkych mrazech dokaze probehnout pomerne rychle (dny).
@7alken
@7alken 4 месяца назад
paráda, už dlouho jsem neviděl takhle fundovanýho člověka nikde; teď jde jenom o to jestli síkela s hladíkem do pár měsíců nezabijou celej průmysl krzevá sci-fi komunitní energetiku, EV overhype a zelený šílenství obecně; base-load zdar!; díky
@TheChmelator
@TheChmelator 3 месяца назад
Co takhle kontakty a všechny spoje pozlatit už ve výrobě?
@zuban222
@zuban222 3 месяца назад
Tak zrovna dvacetileté Data Retention si myslím, že se dá řešit docela snadno, protože stačí ty obvody přeprogramovat. Jen je potřeba udělat to tak, aby byly ty obvody programovatelné tak zvaně "in circuit", což zrovna tady asi bohužel není ten případ. Takže jestli to chápu správně, tak problém je spíše v tom, že 1) nejsou in circuit programmable 2) není je možné vyletovat a zase zaletovat 3) redesign nepřichází v úvahu z důvodu ceny. Pokud toho je ale fakt hodně kusů a začne se to sypat, tak s použitím nějakého přípravku mi přijde je vyletovat a přeprogramovat jako docela schůdná cesta. Každopádně pokud mohu mluvit o tom, co znám, tak třeba na lokomotivě Škoda 93E se tento problém také vyskytl a řeší se to prostě přeflešováním a je to. Program je tam ve flash pamětech 29Fxxxx. Tam je to udělané, že je to in circuit programmable.
@petrcvek
@petrcvek 25 дней назад
> nejsou in circuit programmable Jo je škoda, že výrobce karet nepoužil obvody o jednu generaci modernější. CPLD už obvykle má boundary scan a JTAG.
@jurajlutter
@jurajlutter 3 месяца назад
Whisker je "chlp", česky "chlup".
@tomaskrysl1234
@tomaskrysl1234 3 месяца назад
Ty modrý drátky 26:30 jsou taky masakr. Tvl takovýhle dodo jsem naposled viděl cca před 20 lety u starýho NEC emulátoru. Ale teda v tunelíně bych tohle upřímně nečekal.😮
@JanicekTrnecka
@JanicekTrnecka 3 месяца назад
Docela bezna praxe, kde se nevyplati vyrukovat s novou deskou, maskou, osazováním atd...vetsinou se to vychyta v dalsi iteraci desky.
@tomaskrysl1234
@tomaskrysl1234 3 месяца назад
Tohle bych ale nečekal ani v blbý příměstský tramvaji, natož v jaderný elektrárně! Já si vždycky myslel, že v našich jaderkách je všecko top notch, nejmodernější řízení atd. A teď jsem se dozvěděl realitu. Žádný předem stanovený plán obnovy, až teď se zjišťuje že není obvod PALxx atd. Při vší úctě k pánům inženýrům, tohle mi připomíná film Město Ember. 300 mega za nový desky taky nejde, páč by nezbylo vedení čezu na odměny že. Se už nedivím Rakušákům, že jsou z toho celí jaloví.
@hynekjitro8233
@hynekjitro8233 3 месяца назад
Cínové vousy...
@antoninjurisica8381
@antoninjurisica8381 4 месяца назад
konečně jste přišli na to že je ji potřeba odstavit po vzoru NSR , ideální doba , budeme žít ekologicky vždyť svítit se dá loučemi
Далее
Primární okruh jaderných elektráren
40:16
Просмотров 18 тыс.
Sekundární okruh jaderných elektráren
51:02
Просмотров 15 тыс.
What did she want to draw?🥹
00:40
Просмотров 2,3 млн
Fúzní elektrárny - současný stav vývoje
1:04:18
Просмотров 168 тыс.
prof. P. Kulhánek: Polární světla [Fyz. čtvrtek]
1:06:14
Dana Drábová: Jaderná energie ve službách lidí
1:33:30